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    单分子水平金属-分子-金属结的电学和谱学测量取得新进展

    日期 2011-06-01   来源:化学科学部   作者:杨俊林 高飞雪  【 】   【打印】   【关闭

      目前,以分子作为基本单元替代传统微电子集成电路中的各种功能元件的分子电子学日益受到人们的关注。但是分子电子学领域尚缺乏能有效地表征分子导电过程中的分子结构的方法。非弹性隧道散射谱是目前唯一能实现分子结中电学和谱学性质同时测量的方法,但是它必须工作在超高真空下,难以推广。厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室任斌教授课题组及其合作者在大气环境下,发展出钓鱼式的扫描隧道显微技术(Fishing-mode STM,FM-STM),即在低反馈条件下高效地构筑金属-分子-金属结并测量其中的分子电导。他们将该技术和具有超高空间分辨率和超高灵敏度的TERS(Tip-enhanced Raman Spectroscopy)技术联用,发展出FM-TERS,将其用于检测金属-分子-金属中导电分子的结构信息。FM-TERS技术的发展将有助于人们深入理解电子在分子内部的传递机理,有望成为分子电子器件和分子电子学中重要的研究手段。最新成果于2011年5月10日在线发表在《Nature Communications》上。

      任斌教授课题组于2005 年研制出国内首台基于光纤的TERS仪器,并致力于将其与其它表征方法联用,提高TERS 仪器的灵敏度、稳定性和多功能性,目前该课题组正在利用TERS开展纳米光学、单分子、电化学等领域的研究。

      该研究得到尊龙凯时等的长期支持。